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公司名称:
上海兑爵商贸有限公司
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参考价格:
未标明
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发布时间:
2006-06-08
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产品描述: |
双折射;TFT基板;玻璃
Uniopt公司致力于光学外差干涉技术的开发,为液晶、光学储存盘、高分子薄膜提供双折射检测设备。 |
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ABR双折射测量系统 /双折射测试仪的详细介绍
测量项目: 延迟/光程差 主轴方向
Re 位相差
測定範囲:0~260nm (0~150deg.) 0±90deg.
分解率: 0.01nm (0.006deg.) 0.1deg.
±0.5nm (±0.3deg.) ±0.5deg.
重复性: +/-0.01nm +/-0.02 °
+/-0.1nm +/-0.2 ° +/-0.1 °
测量时间:About 1 sec/point (including time of
measurement for direction angle)
Optional : It can be measured with the Range
0 to 180 °. Resolution(150-180 °.)
: +/-0.1 °.
UPPER : The 3s value for measured result with vacant sample (retardation = zero) LOWER : The 3s value for measured result with QuarterWavePlate as the samplewhere s is standard deviation.
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