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公司名称：
上海瞬渺光电技术有限公司
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参考价格：
0
元
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发布时间：
2011-08-11
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| 产品描述： |
| 该波前传感器通过对160×120取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。
特点：
高分辨率（160×120）
消色差功能
测量可重复性高
对振动不敏感
易于使用，Firewire IEEE1394接口
结构紧凑（可用笔记本电脑控制）
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SID4波前测试仪的详细介绍
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。
该波前传感器通过对160×120取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。
特点：
消色差功能
测量可重复性高
对振动不敏感
易于使用，Firewire IEEE1394接口
结构紧凑（可用笔记本电脑控制）
参数：
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型号
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采样数
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感光尺寸（mm²）
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精度/动态范围
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光谱范围
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采样速率
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SID4
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120×160
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3.6×4.8
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10nm RMS/100μm
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350-1100nm
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60fps
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SID4UV-HR
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250×250
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8.0×8.0
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10nm RMS/200μm
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190-400nm
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30fps
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SID4 NIR
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120×160
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3.6×4.8
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15nm RMS/100μm
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1500-1600nm
|
60fps
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|
SID4-HR
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300×400
|
8.9×11.8
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10nm RMS/500μm
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400-1100nm
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10fps
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SID4 DWIR
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72×96
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10.08×13.44
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75nm RMS
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3-5μm&8-14μm
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50fps
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SID4 BIO
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300×400
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8.9×11.8
|
500μm
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350-1100nm
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10Hz
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