推荐度:
展位号: 200831010109
点击量: 4231
网站首页 |
申请展台
| 在线反馈
       
  上海晶众机电科技有限公司  

上海晶众机电科技有限公司

网址: 暂未添加二级域名 收藏
企业介绍 企业动态 产品展厅 资料中心 下载中心 询价订单 企业荣誉 招聘信息 联系我们 促销商品
当前位置: 展台首页 > 企业介绍
 产品目录
X射线荧光光谱仪(XRF)
等离子体原子发射光谱仪
其它软件
 联系我们
地 址:上海浦东金藏路258号
邮 编:201206
联系人:李经理
电 话:021-58600433
传 真:021-58604471
邮 箱:James@jincome.com.cn
 友情链接
· 中国分析仪器网
· 上海晶众机电科技有限公司
 产品展厅 返回列表

XDL, XULX射线荧光镀层测厚和材质分析仪

公司名称: 上海晶众机电科技有限公司
参考价格: 未标明
发布时间: 2009-05-27
产品描述:
晶众公司代理经销用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过20年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术。
XDL, XULX射线荧光镀层测厚和材质分析仪的详细介绍
典型的应用范围如下: 
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 
最多24种镀层(使用WinFTM® V.6软件)。 
分析可多达24种元素。 
分析电镀溶液中的金属离子浓度。 
所有的设备遵循ASTM B568, DIN 60 987和 ISO 3497等国家和国际标准。 
我要咨询

留下您的询价信息和联系方式,展商会与您取得联系!*号必须填

*姓名: 职务:
*单位名称:
*电话:
(填写格式:057188976106,或者填写手机号)
*E-mail:
网址:
询价内容:
 
首页 | 仪器商场 | 展商在线 | 展会信息 | 供求信息 | 仪器英才 | 应用资讯 | 图书期刊 | 管理入口
中国分析仪器网 设计制作,未经允许翻录必究.以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性
准确性和合法性由相关企业负责,中国分析仪器网对此不承担任何保证责任
浙ICP证020120号 经营许可证编号:浙B2-20060229