|
联系我们
|
| 地 址：深圳市宝安区 |
| 邮 编：518000 |
| 联系人：李宁 |
| 电 话：15889305306 |
| 传 真：0755-25105060 |
| 邮 箱：ty.hzh@163.com |
|
|
|
|
|
|
泰阳仪器电镀层厚度分析仪器,膜厚检测仪器,膜厚分析仪器,膜厚测试仪器,镀层厚度分析仪器,镀层厚度检测仪器,镀层厚度测试仪器
|
|
|
|
公司名称：
泰阳(中国)仪器有限公司
|
|
参考价格：
1
元
|
|
发布时间：
2010-11-15
|
| 产品描述： |
| X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量
应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。
联系方式
联系人：李先生
电话：15889305306
传真：0755-25105060
邮箱：ty.hzh@163.com |
|
|
|
| |
| |
泰阳仪器电镀层厚度分析仪器,膜厚检测仪器,膜厚分析仪器,膜厚测试仪器,镀层厚度分析仪器,镀层厚度检测仪器,镀层厚度测试仪器的详细介绍
元素分析范围：从K到U
一次性可同时分析多层镀层
分析厚度检测出限最高达0.01um
同时可分析多达5层以上镀层
相互独立的基体效应校正模型，最先进厚度分析方法
多次测量重复性最高可达0.01um
长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
温度适应范围：15℃~30℃
输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）
|
|
|
|
