|
联系我们
|
| 地 址：厦门市园山南路800号联发电子广场1A幢1015室 门市：厦门赛格电子市场一楼B1111，二楼C2035 |
| 邮 编：361012 |
| 联系人：杨 清 |
| 电 话：0592-3110663 |
| 传 真：0592-3761135 |
| 邮 箱：05921718@163.com |
|
|
|
|
|
|
X荧光镀层测厚仪X-Strata960X荧光镀层测厚仪X-Strata960
|
|
|
|
公司名称：
厦门欣锐仪器仪表有限公司
|
|
参考价格：
0
元
|
|
发布时间：
2016-01-11
|
| 产品描述： |
|
X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计：
- 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的最强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
- 更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
- 距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
- 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
- 全新的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
- 3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
- 测厚仪内置PC用户界面
|
|
|
|
技术参数
|
|
主要规格
|
规格描述
|
|
X射线激发和检测
|
牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
|
|
高分辨封气(Xe)正比计数器可获取最高的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现最佳的检出效果
|
|
数字脉冲处理
|
4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取最高的信号采集(每秒计数量)，从而保证最好的测量统计结果
|
|
手动或自动透镜控制
|
手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
|
|
自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的最佳分析聚焦距离
|
|
自由距离测定
|
简化系统设置和维护
|
|
在聚焦距离范围内仅需要一个校正
|
|
对不规则样品更灵活的测量
|
|
在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可准确测量样品表面的任何一点
|
|
通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、准确的确定聚焦距离
|
|
附带自动透镜功能的自动激光聚焦
|
独特的、自动样品摆放系统
|
|
激光扫描单键启动
|
|
消除样品碰击Z轴的机会
|
|
改善DIM的聚焦过程
|
|
标准激光聚焦
|
标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
|
|
Z轴聚焦扫描单键启动
|
|
改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
|
|
微小准直器
|
仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以最优化测量，并提高测量效率
|
|
备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用
|
|
多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
|
|
大样品室设计
|
方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
|
|
大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
|
|
三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
|
|
标准配置自动化Z轴：最大高度230mm
|
|
集成化计算机
|
工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
|
|
简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
|
|
减少整机占用空间
|
|
USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
|
|
其他硬件特点
|
CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
|
|
温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，保证长期的仪器稳定性
|
|
光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器长期的稳定性
|
|
坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
|
|
一体化工作站设计实现最佳的人机工程学
|
|
|
|
|
|
| |
| |
X荧光镀层测厚仪X-Strata960X荧光镀层测厚仪X-Strata960的详细介绍
|
X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计：
- 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的最强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
- 更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
- 距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
- 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
- 全新的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
- 3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
- 测厚仪内置PC用户界面
|
|
|
|
技术参数
|
|
主要规格
|
规格描述
|
|
X射线激发和检测
|
牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
|
|
高分辨封气(Xe)正比计数器可获取最高的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现最佳的检出效果
|
|
数字脉冲处理
|
4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取最高的信号采集(每秒计数量)，从而保证最好的测量统计结果
|
|
手动或自动透镜控制
|
手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
|
|
自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的最佳分析聚焦距离
|
|
自由距离测定
|
简化系统设置和维护
|
|
在聚焦距离范围内仅需要一个校正
|
|
对不规则样品更灵活的测量
|
|
在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可准确测量样品表面的任何一点
|
|
通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、准确的确定聚焦距离
|
|
附带自动透镜功能的自动激光聚焦
|
独特的、自动样品摆放系统
|
|
激光扫描单键启动
|
|
消除样品碰击Z轴的机会
|
|
改善DIM的聚焦过程
|
|
标准激光聚焦
|
标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
|
|
Z轴聚焦扫描单键启动
|
|
改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
|
|
微小准直器
|
仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以最优化测量，并提高测量效率
|
|
备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用
|
|
多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
|
|
大样品室设计
|
方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
|
|
大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
|
|
三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
|
|
标准配置自动化Z轴：最大高度230mm
|
|
集成化计算机
|
工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
|
|
简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
|
|
减少整机占用空间
|
|
USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
|
|
其他硬件特点
|
CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
|
|
温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，保证长期的仪器稳定性
|
|
光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器长期的稳定性
|
|
坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
|
|
一体化工作站设计实现最佳的人机工程学
|
|
|
|
|
|
