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公司名称：
日本电子株式会社广州事务所
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参考价格：
0
元
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发布时间：
2011-01-12
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| 产品描述： |
Sparhelicon检测器的冷却方法属于一项专利 |
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JED-2300系列能谱仪(JEOL)的详细介绍
探头 Si(Li) 锂硅半导体探头
探测面积 10mm2
分辨率 138eV
探测元素范围 B to U
峰背比 10,000:1
窗口类型 超薄窗口
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