XP梅特勒XP 分析天平/十万分之一天平的详细介绍
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产品特征：
• 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求
• 天平校验功能(BalanceCheck)，自动提示用户使用外置砝码校正/
校准天平，确保称量结果始终准确
• 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
• 完全可拆卸，清洗的玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
• 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件
称量、百分比称量、密度测量、差重称量
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型号
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最大称量值（g）
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可读性（mg）
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重复性（sd）(mg)
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线性误差（mg）
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典型稳定时间（s）
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秤盘尺寸（W*D）(mm)
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XP105DR
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31/120
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0.01/0.1
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0.015/0.06
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0.15
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1.5
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78*73
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XP205
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220
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0.01
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0.03
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0.1
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2.5
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78*73
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XP205DR
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81/220
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0.01/0.1
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0.015/0.06
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0.15
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1.5
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78*73
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XP204
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220
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0.1
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0.07
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0.2
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1.5
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78*73
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XP504
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520
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0.1
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0.12
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0.4
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1.5
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78*73
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