经过20多年的努力, 现在的荧光X-射线电镀膜厚仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度，测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。
X-射线电镀膜厚仪应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：CL(17)~U(92 )。
行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色 : 非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 可测量高达4层的镀层 (4层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多至24种元素。
 

X-射线电镀膜厚仪测量模式用于： 
 单、双及三层镀层系统 
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 
双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量） 
能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。 
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