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MiniPL宽带隙小型深紫外PL-Mapping（光致发光）光谱仪
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公司名称：
北京卓立汉光仪器有限公司
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参考价格：
0
元
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发布时间：
2014-04-28
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| 产品描述： |
光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合独特的光路设计，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不仅可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。 |
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MiniPL宽带隙小型深紫外PL-Mapping（光致发光）光谱仪的详细介绍
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型号
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规格描述
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MiniPL 5.0eV
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NeCu激光器(248.6nm),三维手动调节样品台，单光栅1200g/mm, PMT （190~650nm)，驱动及软件；
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MiniPL 5.5eV
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HeAg激光器(224.0nm) ,三维手动调节样品台，单光栅1200g/mm, PMT （190~650nm)，驱动及软件；
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升级选项
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光电倍增管选项
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升级为190-850nm
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光栅选项
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增加第二块光栅（3600g/mm）
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Mapping功能选项
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升级为X-Y自动扫描样品台
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低温制冷选项
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4K，6.5K，10K低温制冷样品室，低震动设计，振幅小于5nm
（选配低温选项时不能同时进行Mapping测量）
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