CMI900荧光X射线镀层测厚仪《br》《br》《br》
仪器介绍:《br》《br》《br》
CMI900荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，FPC,汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器,端子，卫浴洁具，首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量《br》《br》《br》
主要特点 :《br》《br》《br》
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 《br》《br》《br》
可检测元素范围：Ti22 – U92 《br》《br》《br》
可同时测定5层/15种元素 《br》《br》《br》
精度高、稳定性好 《br》《br》《br》
强大的数据统计、处理功能 《br》《br》《br》
测量范围宽 《br》《br》《br》
NIST认证的标准片 《br》《br》《br》
全球服务及支持 《br》《br》《br》