OPTOTOP是一套快捷高效的，非接触式光学表面测量系统。它能在纳米，微米，及大尺寸下进行光学形貌及几何测量。
优势：

-          方便舒适的操作
-          快速的数据提取
-          多样性测量方法，完全的交互式操作
-          2D形态下的微粗糙度值（表面粗糙及缺陷）
-          特定区域内，具方向性的粗糙度值（组织，纹理分析）
-          2D,3D以及深度剖面的形貌描述

应用范围：

-          光滑面，粗糙面，曲面的表面粗糙度分析
-          大尺寸计算，微几何形态描述，及平坦度控制
-          表面控制，例如：滚筒模
-          应用领域包括：研发，品质生产控制，验收检验，及损坏分析

Example：图画纸



Example: 皮革（3D形貌）          菲涅耳镜头表面（3D形貌）

   

技术规格：

传感器：彩色共焦                 最大测量频率：100HZ/300HZ (1kHZ)
测量范围Z:300mm/1mm/2mm             最大行程XY：60mmⅹ60mm
解析度Z：12nm/25nm/75nm               速率：0.1 bis 10mm/s
侧向解析度：1.55mm/2mm/4mm            平台尺寸：165ⅹ165mm
测量长度：11mm/12.7mm/16.4mm         电脑，软件，显示器：LCD 17〞